RTS-11型金屬四探針測試儀
于測試低阻金屬材料電阻率及方塊電阻
測量范圍：電阻率：10-7～10-2Ω.cm； 方塊電阻：10-6～10-1Ω/□；
是運(yùn)用四探針測量原理的多用途綜合測量設(shè)備，該儀器按照單晶硅物理測試方法國家標(biāo)準(zhǔn)并參考美國 A.S.T.M 標(biāo)準(zhǔn)而設(shè)計的，于測試金屬材料電阻率及方塊電阻（薄層電阻）的儀器。

RTS-11型金屬四探針測試儀

于測試低阻金屬材料電阻率及方塊電阻

測量范圍：電阻率：10-7～10-2Ω.cm； 方塊電阻：10-6～10-1Ω/□；

RTS-11型金屬四探針測試儀是運(yùn)用四探針測量原理的多用途綜合測量設(shè)備。該儀器按照單晶硅物理測試方法國家標(biāo)準(zhǔn)并參考美國 A.S.T.M 標(biāo)準(zhǔn)而設(shè)計的，于測試金屬材料電阻率及方塊電阻(薄層電阻)的儀器。
儀器由主機(jī)、測試臺、四探針探頭、計算機(jī)等部分組成，測量數(shù)據(jù)既可由主機(jī)直接顯示，亦可由計算機(jī)控制測試采集測試數(shù)據(jù)到計算機(jī)中加以分析，然后以表格，圖形方式統(tǒng)計分析顯示測試結(jié)果。
儀器采用了電子技術(shù)進(jìn)行設(shè)計、裝配。具有功能選擇直觀、測量取數(shù)快、精度高、測量范圍寬、穩(wěn)定性好、結(jié)構(gòu)緊湊、易操作等特點(diǎn)。
本儀器適用于工廠、科研單位、高等院校對金屬材料的電阻性能測試。

RTS-11型四探針軟件測試系統(tǒng)是一個運(yùn)行在計算機(jī)上擁有友好測試界面的用戶程序，通過此測試程序輔助使用戶簡便地進(jìn)行各項測試及獲得測試數(shù)據(jù)并對測試數(shù)據(jù)進(jìn)行統(tǒng)計分析。
測試程序控制四探針測試儀進(jìn)行測量并采集測試數(shù)據(jù)，把采集到的數(shù)據(jù)在計算機(jī)中加以分析，然后把測試數(shù)據(jù)以表格，圖形直觀地記錄、顯示出來。用戶可對采集到的數(shù)據(jù)在電腦中保存或者打印以備日后參考和查看，還可以把采集到的數(shù)據(jù)輸出到Excel中，讓用戶對數(shù)據(jù)進(jìn)行各種數(shù)據(jù)分析

測量范圍：

電阻率：10-7～10-2 Ω.cm；
方塊電阻：10-6～10-1 Ω/□；
電導(dǎo)率：102～107 s/cm；
電阻：10-7～10-2 Ω；

可測晶片直徑

140mmX150mm(配S-2A型測試臺)；
200mmX200mm(配S-2B型測試臺)；
400mmX500mm(配S-2C型測試臺)；

恒流源 電流量程分為0.1A、1A、10A三檔，各檔電流連續(xù)可調(diào)

數(shù)字電壓表

量程及表示形式：00.000～19.999mV；　　　　　
分辨力：1μV；
輸入阻抗：＞1000MΩ；
精度：±0.5%；
顯示：四位半紅色發(fā)光管數(shù)字顯示；極性、超量程自動顯示；

四探針探頭基本指標(biāo)

間距：1±0.01mm；
針間絕緣電阻：≥1000MΩ；
機(jī)械游移率：≤0.3%；
探針：碳化鎢或高速鋼Ф0.5mm；
探針壓力：5～16 牛頓(總力)；

四探針探頭應(yīng)用參數(shù) 見合格證

模擬電阻測量相對誤差( 按JJG508-87進(jìn)行)

0.0001Ω、0.001Ω、0.01Ω≤0.5％±1字

整機(jī)測量ZUI大相對誤差

用標(biāo)準(zhǔn)電阻（0.0001Ω～0.01Ω）測試≤±3％

整機(jī)測量標(biāo)準(zhǔn)不確定度≤8％

軟件功能（選配）軟件可記錄、保存、打印每一點(diǎn)的測試數(shù)據(jù)，并統(tǒng)計分析測試數(shù)據(jù)ZUI大值、ZUI小值、平均值、ZUI大百分變化、平均百分變化、徑向不均勻度、并將數(shù)據(jù)生成直方圖，也可把測試數(shù)據(jù)輸出到Excel中，對數(shù)據(jù)進(jìn)行各種數(shù)據(jù)分析。軟件還可選擇自動測量功能，根據(jù)樣品電阻大小自動選擇適合電流量程檔測試。

計算機(jī)通訊接口并口，高速并行采集數(shù)據(jù)，連接電腦使用時采集數(shù)據(jù)到電腦的時間只需要1.5 秒

標(biāo)準(zhǔn)使用環(huán)境

溫度：23±2℃；
相對濕度：≤65%；
無高頻干擾；
無強(qiáng)光直射；